| 8寸高/低溫探針臺T-200HC |
| 用于1~8寸晶圓，批次小器件，單個芯片或MEMS等器件電學(xué)性能測試； |
| 應(yīng)用場景：I/V曲線測試，C/V測試，射頻S參數(shù)測試等； |
| 溫度范圍：-60℃/-55℃至150℃/200℃/300℃可選； |
| 支持制冷機(jī)、液氮；兩者兼容（液氮采用PID系統(tǒng)控制，更節(jié)省用量）； |
| 獨特的低溫技術(shù)，防止結(jié)冰現(xiàn)象產(chǎn)生； |
| 用于實驗室芯片驗證，失效分析，產(chǎn)線射頻芯片S參數(shù)測試等。 |
